Košík

0525112 - ÚPT 2021 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Skoupý, Radim - Fořt, Tomáš - Krzyžánek, Vladislav
Nanoscale Estimation of Coating Thickness on Substrates via Standardless BSE Detector Calibration.
Nanomaterials. Roč. 10, č. 2 (2020), č. článku 332. E-ISSN 2079-4991
Grant CEP: GA ČR GA17-15451S; GA MPO(CZ) FV30271
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: SEM * quantitative imaging * back-scattered electrons * standardless calibration * electron mirror * sample bias * Monte Carlo simulation * thin coating layers
Obor OECD: Nano-materials (production and properties)
Impakt faktor: 5.076, rok: 2020
Způsob publikování: Open access
https://www.mdpi.com/2079-4991/10/2/332
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0309322