Košík

  1. 1.
    0522221 - ÚPT 2020 US eng A - Abstrakt
    Mikmeková, Šárka - Jánský, P. - Kolařík, V. - Müllerová, Ilona
    Surface imaging with UHV SLEEM and SEM LEEM.
    Microscopy and Microanalysis. Roč. 25, S2 (2019), s. 444-445. ISSN 1431-9276.
    [Microscopy & Microanalysis 2019 Meeting. 04.08.2019-08.08.2019, Portland]
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: surface imaging * UHV SLEEM * SEM LEEM
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Obor OECD: Materials engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0306716