Košík

  1. 1.
    0502126 - ÚPT 2019 NL eng A - Abstrakt
    Konvalina, Ivo - Paták, Aleš - Materna-Mikmeková, Eliška - Müllerová, Ilona
    STEM detector in SEM.
    FEELIS-III. Amsterdam: ARCNL, 2018. s. 55-56.
    [LEELIS-III. Low Energy Elwctrons: Lithography, Imaging and Soft Matter. 12.11.2018-13.11.2018, Amsterdam]
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠk(CZ) LO1212; GA MŠk ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: STEM * SEM
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0294115