Košík

0502126 - ÚPT 2019 NL eng A - Abstrakt
Konvalina, Ivo - Paták, Aleš - Materna-Mikmeková, Eliška - Müllerová, Ilona
STEM detector in SEM.
FEELIS-III. Amsterdam: ARCNL, 2018. s. 55-56.
[LEELIS-III. Low Energy Elwctrons: Lithography, Imaging and Soft Matter. 12.11.2018-13.11.2018, Amsterdam]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: STEM * SEM
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0294115