Košík

0499540 - ÚFP 2020 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Doleček, Roman - Lédl, Vít - Psota, Pavel - Václavík, Jan - Vojtíšek, Petr
Multiwavelength digital holography for polishing tool shape measurement.
Proceedings of SPIE. Rochester: SPIE-int. soc. optical engineering, 2013 - (Bentley, J.; Pfaff, M.), č. článku 88840E. ISBN 978-081949747-5. ISSN 0277786X.
[Optifab 2013. Rochester (US), 14.10.2013-17.10.2013]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) ED2.1.00/03.0079
Institucionální podpora: RVO:61389021
Klíčová slova: polishing * holographic interferometry * multiwavelength * contouring
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0291738