Košík

  1. 1.
    0496877 - FZÚ 2019 CZ eng A - Abstrakt
    Váňa, R. - Dluhoš, J. - Varga, Marián - Schmid, Ch. - Kromka, Alexander
    Raman integrated scanning electron (RISE) microscopy for complex in-situ diamond characterization at identical spot.
    NANOCON 2017 - Book of Abstracts. Ostrava: Tanger Ltd, 2017 - (Shrbená, J.). s. 70-70. ISBN 978-80-87294-78-9.
    [NANOCON 2017. International Conference on Nanomaterials - Research & Application /9./. 18.10.2017-20.10.2017, Brno]
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: diamond * RISE microscopy
    Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0289494
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.