Košík

  1. 1.
    0494374 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Rodenburg, C. - Masters, R. - Abrams, K. - Dapor, M. - Krátký, Stanislav - Mika, Filip
    Secondary electron hyper spectral imaging in helios nanolab - mapping materials properties or artefacts?
    Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018, s. 68-69. ISBN 978-80-87441-23-7.
    [Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 04.06.2018-08.06.2018]
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: secondary electrons * polymers * hyperspectral imaging
    Obor OECD: Coating and films
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0288492
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.