Košík

  1. 1.
    0481585 - ÚPT 2018 RIV HR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Konvalina, Ivo - Paták, Aleš - Mika, Filip - Müllerová, Ilona
    STEM modes in SEM – simulations and experiments.
    13th Multinational Congress on Microscopy: Book of Abstracts. Zagreb: Ruder Bošković Institute, Croatian Microscopy Society, 2017 - (Gajović, A.; Weber, I.; Kovačević, G.; Čadež, V.; Šegota, S.; Peharec Štefanić, P.; Vidoš, A.), s. 140-141. ISBN 978-953-7941-19-2.
    [Multinational Congress on Microscopy /13./. Rovinj (HR), 24.09.2017-29.09.2017]
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: STEM detector * trajectory simulations * cathode lens * collection efficiency
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0277129