Košík

  1. 1.
    0477097 - ÚPT 2018 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Piňos, Jakub - Mikmeková, Šárka - Frank, Luděk
    About the information depth of backscattered electron imaging.
    Journal of Microscopy. Roč. 266, č. 3 (2017), s. 335-342. ISSN 0022-2720
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: backscattered electrons * information depth * penetration of electrons
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Obor OECD: Materials engineering
    Impakt faktor: 1.693, rok: 2017
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0273494