Košík

  1. 1.
    0465457 - ÚPT 2017 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Müllerová, Ilona - Mikmeková, Eliška - Mikmeková, Šárka - Konvalina, Ivo - Frank, Luděk
    Practical Use of Scanning Low Energy Electron Microscope (SLEEM).
    Microscopy and Microanalysis. Roč. 22, S3 (2016), s. 1650-1651. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: scanning low energy * SLEEM
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 1.891, rok: 2016
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0264011
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.