Košík

0464368 - ÚFE 2017 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Lorinčík, Jan - Veselá, D. - Vytykáčová, S. - Švecová, B. - Nekvindová, P. - Macková, Anna - Mikšová, Romana - Malinský, Petr - Boettger, R.
Comparison of SIMS and RBS for depth profiling of silica glasses implanted with metal ions.
Journal of Vacuum Science & Technology B. Roč. 34, č. 3 (2016), č. článku 03H129. ISSN 1071-1023
Grant CEP: GA ČR GA15-01602S; GA MŠMT(CZ) LM2011019
Institucionální podpora: RVO:67985882 ; RVO:61389005
Klíčová slova: Nanoparticles * Spectroscopy * Backscattering
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika; BG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače (UJF-V)
Impakt faktor: 1.573, rok: 2016
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0263496