Košík

  1. 1.
    0460208 - ÚPT 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Piňos, Jakub - Mikmeková, Šárka - Frank, Luděk
    The information depth of backscattered electron imaging.
    Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 46-47. ISBN 978-80-87441-17-6.
    [International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: electron microscopy * SEM * BSE
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    http://www.trends.isibrno.cz/
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260340
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.