Košík

0452286 - ÚPT 2016 DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Krzyžánek, Vladislav - Skoupý, Radim - Hrubanová, Kamila - Kočová, L. - Nebesářová, Jana
Influence of ultrathin resin section aging and its reduction for imaging in the low voltage STEM.
MC 2015. Microscopy Conference Proceedings. Göttingen: DGE, 2015, s. 817-818.
[Microscopy Conference 2015. Göttingen (DE), 06.09.2015-11.09.2015]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-20012S; GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:60077344
Klíčová slova: STEM * ultrathin resin
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0253311