Košík

  1. 1.
    0451587 - ÚPT 2016 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Krátký, Stanislav - Urbánek, Michal - Kolařík, Vladimír
    PEC Reliability in 3D E-beam DOE Nanopatterning.
    Microscopy and Microanalysis. Roč. 21, S4 (2015), s. 230-235. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1212
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: proximity effect correction * diffractive optical elements
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 1.730, rok: 2015
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0252722
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.