Košík

0451582 - ÚPT 2016 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Radlička, Tomáš
Wave Optical Calculation of Probe Size in Low Energy Scanning Electron Microscope.
Microscopy and Microanalysis. Roč. 21, S4 (2015), s. 212-217. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1212
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning electron microscope * optical calculation
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.730, rok: 2015
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0252721