Košík

0436805 - ÚPT 2015 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Müllerová, Ilona - Mikmeková, Šárka - Mikmeková, Eliška - Pokorná, Zuzana - Frank, Luděk
Exploitation of Contrasts in Low Energy SEM to Reveal True Microstructure.
Microscopy and Microanalysis. Roč. 20, S3 (2014), s. 858-859. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
Grant CEP: GA TA ČR TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning low energy electron microscopy * contrast * cathode lens
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.872, rok: 2014
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0240464