Košík

0432079 - FZÚ 2015 CZ eng D - Dizertace
Hývl, Matěj
Study of silicon nanostructures by microscopic methods.
České vysoké učení technické v Praze, Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská. - Praha: ČVUT, 2014. 72 s.
Grant CEP: GA MPO FR-TI2/736; GA ČR GA13-12386S; GA MŠMT(CZ) LM2011026; GA ČR GB14-37427G
Grant ostatní: AVČR(CZ) M100101216
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: silicon nanostructures * AFM * Raman intensity mapping * nanoindentation * radial junctions * Si NWs * LPC polycrystalline silicon thin films
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0236555