Košík

0397860 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hrabina, Jan - Lazar, Josef - Klepetek, P. - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Holá, Miroslava - Šerý, Mojmír
Interferometric coordinates measurement sytem for local probe microscopy nanometrology.
NANOCON 2013, 5TH INTERNATIONAL CONFERENCE. Ostrava: TANGER Ltd, 2014. ISBN 978-80-87294-47-5.
[NANOCON 2013. International Conference /5./. Brno (CZ), 16.10.2013-18.10.2013]
Grant CEP: GA ČR GPP102/11/P820; GA MPO FR-TI2/705; GA TA ČR TA01010995; GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TE01020233; GA MŠMT ED0017/01/01; GA MŠMT EE2.4.31.0016
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Nanometrology * Interferometry * Traceability * Local probe microscopy * Nanopositioning
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0225471