Košík

0389053 - FZÚ 2013 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Vetushka, Aliaksi - Itoh, T. - Nakanishi, Y. - Fejfar, Antonín - Nonomura, S. - Ledinský, Martin - Kočka, Jan
Conductive atomic force microscopy on carbon nanowalls.
Journal of Non-Crystalline Solids. Roč. 358, č. 17 (2012), s. 2545-2547. ISSN 0022-3093. E-ISSN 1873-4812
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA MŠMT(CZ) MEB061012; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT 7E10061
GRANT EU: European Commission(XE) 240826 - PolySiMode
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: carbon nanowalls * conductive atomic force microscopy * torsion resonance mode * nanostructures
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.597, rok: 2012
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0217956