Košík

0384139 - FZÚ 2013 eng A - Abstrakt
Fejfar, Antonín
Microscopic study of silicon thin films.
[NANOCON 2011. International Conference /3./. 21.09.2011-23.09.2011, Brno]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510
GRANT EU: European Commission(XE) 240826 - PolySiMode
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: silicon * scanning probe methods * solar cells
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0213873