0375054 - FZÚ 2012 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Fejfar, Antonín - Klapetek, P. - Zlámal, J. - Vetushka, Aliaksi - Ledinský, Martin - Kočka, JanMicroscopic characterizations of nanostructured silicon thin films for solar cells.
Amorphous and Polycrystalline Thin-Film Silicon Science and Technology. Warrendale: MRS, 2011 - (Yan, B.; Higashi, S.; Tsai, C.; Wang, Q.; Gleskova, H.), s. 313-321. MRS Symposium Proceeding, 1321. ISBN 9781605112985.
[Materials Research Society Spring Meeting. San Francisko (US), 25.04.2011-29.04.2011]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA MŠMT(CZ) MEB061012; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510
Grant ostatní: 7. Framework programme EU(XE) no. 240826
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: silicon * scanning probe methods * solar cells
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0207821
