Košík

  1. 1.
    0366182 - FZÚ 2015 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
    Holovský, Jakub - Dagkaldiran, U. - Remeš, Zdeněk - Purkrt, Adam - Ižák, Tibor - Poruba, Aleš - Vaněček, Milan
    Fourier transform photocurrent measurement of thin silicon films on rough, conductive and opaque substrates.
    Physica Status Solidi A. Roč. 207, č. 9 (2010), s. 578-581. ISSN 1862-6300. E-ISSN 1862-6319
    Grant CEP: GA ČR GD202/09/H041; GA ČR GA202/09/0417
    GRANT EU: European Commission(XE) 38885 - SE-POWERFOIL
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: solar cell * silicon * spectroscopy
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 1.458, rok: 2010
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0201253
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.