Košík

  1. 1.
    0365169 - FZÚ 2012 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
    Delville, R. - Malard, B. - Pilch, Jan - Šittner, Petr - Schryvers, D.
    Transmission electron microscopy study of microstructural evolution in nanograined Ni-Ti microwires heat treated by electric pulse.
    Solid State Phenomena. 172-174, č. 6 (2011), s. 682-687. ISSN 1012-0394
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LA10010
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100520
    Klíčová slova: transmission electron microscopy * shape memory alloy * martensitic transformation * dislocation slip * nanograins
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0200474
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.