Košík

  1. 1.
    0362878 - ÚFCH JH 2012 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Siokou, A. - Ravani, F. - Karakalos, S. - Frank, Otakar - Kalbáč, Martin - Galiotis, C.
    Surface refinement and electronic properties of graphene layers grown on copper substrate: An XPS, UPS and EELS study.
    Applied Surface Science. Roč. 257, č. 23 (2011), s. 9785-9790. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
    Grant CEP: GA MŠMT LC510; GA AV ČR IAA400400911
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z40400503
    Klíčová slova: graphene * XPS * EELS
    Kód oboru RIV: CG - Elektrochemie
    Impakt faktor: 2.103, rok: 2011
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0006521
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.