Košík

0360082 - ÚTIA 2012 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Sedlář, Jiří - Zitová, Barbara - Kopeček, Jaromír - Todorciuc, T. - Kratochvílová, Irena
Detection of Elliptical Particles in Atomic Force Microscopy Images.
ICASSP 2011: IEEE International Conference on Acoustics, Speech, and Signal Processing. Praha: IEEE, 2011, s. 1233-1236. ISBN 978-1-4577-0539-7.
[ICASSP 2011: IEEE International Conference on Acoustics, Speech, and Signal Processing. Praha (CZ), 22.05.2011-27.05.2011]
Grant CEP: GA MŠMT 1M0572; GA ČR GA203/08/1594; GA AV ČR KAN401770651; GA ČR GAP103/11/1552
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10750506; CEZ:AV0Z10100520
Klíčová slova: particles detection * atomic force microscopy (AFM) imaging * watershed segmentation * image moments * approximation by ellipses
Kód oboru RIV: IN - Informatika
http://library.utia.cas.cz/separaty/2011/ZOI/sedlar-detection of elliptical particles in atomic force microscopy images.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0197718