Košík

0353131 - FZÚ 2011 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Ge, Y. - Heczko, Oleg - Hannula, S.-P. - Fähler, S.
Probing structure and microstructure of epitaxial Ni–Mn–Ga films by reciprocal space mapping and pole figure measurements.
Acta Materialia. Roč. 58, č. 20 (2010), 6665-6671. ISSN 1359-6454. E-ISSN 1873-2453
Grant ostatní: AVČR(CZ) M100100913
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100520
Klíčová slova: reciprocal space mapping * thin film * Ni–Mn–Ga * martensite * magnetic shape memory
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 3.781, rok: 2010
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0192458