Košík

0352510 - ÚPT 2011 RIV JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mikmeková, Šárka - Matsuda, K. - Watanabe, K. - Mizutani, M. - Narukawa, Y. - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Scanning Low Energy Electron Microscopy - A PowerfuleTool for Materials Science.
Proceedings of 5th Japan-China-Norway Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology. Toyama: University of Toyama, 2010, s. 77-78. ISBN 978-4-9903248-2-7.
[JCNCS2010 /5./ Japan-China-Norway Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology. Toyama (JP), 12.09.2010-15.09.2010]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning low energy electron microscopy * AZ 91 * AZ 96 * UFG Al * matal matrix composite materials
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0192002