Košík

0347763 - FZÚ 2011 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
Ledinský, Martin - Vetushka, Aliaksi - Stuchlík, Jiří - Fejfar, Antonín - Kočka, Jan
Raman mapping of microcrystalline silicon thin films with high spatial resolution.
Physica Status Solidi C. Roč. 7, 3-4 (2010), s. 704-707. ISSN 1862-6351
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510; GA AV ČR(CZ) IAA100100902
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: Raman * atomic force microscopy * microcrystalline silicon
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
http://www3.interscience.wiley.com/journal/123277609/abstract
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0188466