Košík

0335266 - ÚPT 2010 RIV AT eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Čudek, P. - Jirák, Josef - Neděla, Vilém
Scintillation secondary electron detector for variable pressure scanning electron microscope.
MC 2009 - Microscopy Conference: First Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Conference on Microscopy. Graz: Verlag der Technischen Universität, 2009, Vol. 1: 221-222. ISBN 978-3-85125-062-6.
[MC 2009 - Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Congress on Microscopy /9./. Graz (AT), 30.08.2009-04.09.2009]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scintillation SE detector * variable pressure SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.univie.ac.at/asem/Graz_MC_09/papers/95710.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0179776