Košík

0334092 - FZÚ 2010 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Hau-Riege, S.P. - London, R.A. - Bionta, R.M. - Ryutov, D. - Soufli, R. - Bajt, S. - McKernan, M.A. - Baker, S. L. - Krzywinski, J. - Sobierajski, R. - Nietubyc, R. - Klinger, D. - Pelka, J. B. - Jurek, M. - Juha, Libor - Chalupský, Jaromír - Cihelka, Jaroslav - Hájková, Věra - Velyhan, Andriy - Krása, Josef - Tiedtke, K. - Toleikis, S. - Wabnitz, H. - Bergh, M. - Caleman, C. - Timneanu, N.
Wavelength dependence of the damage threshold of inorganic materials under extreme-ultraviolet free-electron-laser irradiation.
[Závislost prahu poškození anorganických materiálů ozářených XUV laserem s volnými elektrony.]
Applied Physics Letters. Roč. 95, č. 11 (2009), 111104/1-111104/3. ISSN 0003-6951. E-ISSN 1077-3118
Grant CEP: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT LA08024; GA AV ČR IAA400100701
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
Klíčová slova: damage threshold * silicon carbide * boron carbide * soft X-ray free-electron laser
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 3.554, rok: 2009
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0178918