Košík

0328164 - FZÚ 2010 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Kozak, Halyna - Kromka, Alexander - Ukraintsev, Egor - Houdková, Jana - Ledinský, Martin - Vaněček, Milan - Rezek, Bohuslav
Detecting sp² phase on diamond surfaces by atomic force microscopy phase imaging and its effects on surface conductivity.
[[Detekce sp² fáze na povrchu diamantu pomoci mikroskopii atomárních sil a její vliv na povrchovou vodivost.]
Diamond and Related Materials. Roč. 18, 5-8 (2009), s. 722-725. ISSN 0925-9635. E-ISSN 1879-0062
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510; GA AV ČR KAN400100652
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: nanocrystalline diamond * surface conductivity * non-diamond phase * photolithography * XPS * AFM * SEM * Raman spectroscopy
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.822, rok: 2009
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0174545