Košík

  1. 1.
    0322843 - ÚPT 2009 RIV GB eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Bartušek, Karel - Fiala, P. - Dohnal, P.
    The Measurement of Temperature Characteristics of Cu Bulk Resistivity.
    [Měření teplotní závislosti rezistivity Cu.]
    Proceedings of PIERS 2008 in Cambridge. Cambridge: The Electromagnetics Academy, 2008, s. 827-831. ISBN 978-1-934142-06-6. ISSN 1559-9450.
    [Progress In Electromagnetics Research Symposium - PIERS 2008. Cambridge (GB), 02.07.2008-06.07.2008]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: resistivity * temperature dependence of resistivity * Kelvins probe * cryotechnics
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0170983
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.