Košík

0316646 - ÚPT 2009 IT eng A - Abstrakt
Číp, Ondřej - Šmíd, Radek - Buchta, Zdeněk - Čížek, Martin - Lazar, Josef
Digital control of beams position in high-resolution interferometer for calibration of precise length sensors.
[Číslicové řízení polohy svazků v interferometru s vysokým rozlišením pro kalibrace přesných délkových senzorů.]
NanoScale 2008 - 8th Seminar on Quantitative Microscopy (QM) and 4th Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods. Torino: Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, 2008. s. 44. ISBN N.
[NanoScale 2008. 22.09.2008-23.09.2008, Torino]
Grant CEP: GA AV ČR IAA200650504; GA MŠMT(CZ) LC06007; GA MŠMT 2C06012; GA ČR GA102/07/1179; GA MPO 2A-1TP1/127; GA MPO 2A-3TP1/113; GA MPO FT-TA3/133
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: high resolution interferometry * nanometrology
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0166504