Košík

  1. 1.
    0205642 - UPT-D 20030024 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
    Contrast Mechanisms in the Scanning Low Energy Electron Microscopy.
    Microscopy and Microanalysis. Roč. 9, Sup. 3 (2003), s. 120 - 121. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115.
    [MC 2003. Dresden, 07.09.2003-12.09.2003]
    Grant CEP: GA AV ČR IPP1050128; GA AV ČR IAA1065304
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
    Klíčová slova: scanning electron microscope * primary electrons * cathode lens
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 1.648, rok: 2003
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101255
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.