Košík

0205544 - UPT-D 20020094 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Müllerová, Ilona
Imaging of specimens at optimized low and very low energies in scanning electron microscopy.
Scanning Microscopy. Roč. 13, č. 1 (1999), s. 7 - 22. ISSN 0891-7035
Grant CEP: GA AV ČR IAA2065502; GA ČR GA202/95/0280; GA ČR GA202/96/0961
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: contrast mechanisms * scanning electron microscope * low electron energies
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 0.000, rok: 1999
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101157