Košík

0205377 - UPT-D 20010016 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Frank, Luděk - Zadražil, Martin - Müllerová, Ilona
Scanning Electron Microscopy of Nonconductive Specimens at Critical Energies in a Cathode Lens System.
Scanning. Roč. 23, č. 1 (2001), s. 36-50. ISSN 0161-0457. E-ISSN 1932-8745
Grant CEP: GA ČR GA202/96/0961; GA ČR GA202/99/0008
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: scanning electron microscopy * specimen charging * nonconductive specimens
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 0.389, rok: 2001
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100991