Košík

  1. 1.
    0185810 - UJF-V 20033134 RIV JP eng G - Konferenční sborník (zahraniční konf.)
    Vacík, Jiří - Červená, Jarmila - Hnatowicz, Vladimír - Naramoto, H.
    Elemental analysis with neutron beams: neutron depth profiling.
    Tokyo: Japan Electrochemical Society, 2003. 6 s.
    [Regular Meeting of Japan Electrochemical Society. Tokyo (JP), 07.10.2002]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1048901
    Klíčová slova: NDP * elemental analysis
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0082174