Košík

0133868 - FZU-D 20020047 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Glinchuk, M. D. - Eliseev, E. A. - Deineka, Alexander - Jastrabík, Lubomír - Suchaneck, G. - Sandner, T. - Gerlach, G. - Hrabovský, Miroslav
Optical refraction index and polarization profile of ferroelectric thin films.
Integrated Ferroelectrics. Roč. 38, 1-4 (2001), s. 101-110. ISSN 1058-4587. E-ISSN 1607-8489
Grant CEP: GA MŠMT LN00A015; GA ČR GA202/00/1425
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010914
Klíčová slova: thin film * refraction index * polarization * film thickness
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 0.512, rok: 2001
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0031819