Košík

  1. 1.
    0133868 - FZU-D 20020047 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Glinchuk, M. D. - Eliseev, E. A. - Deineka, Alexander - Jastrabík, Lubomír - Suchaneck, G. - Sandner, T. - Gerlach, G. - Hrabovský, Miroslav
    Optical refraction index and polarization profile of ferroelectric thin films.
    Integrated Ferroelectrics. Roč. 38, 1-4 (2001), s. 101-110. ISSN 1058-4587
    Grant CEP: GA MŠk LN00A015; GA ČR GA202/00/1425
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010914
    Klíčová slova: thin film * refraction index * polarization * film thickness
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 0.512, rok: 2001
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0031819