Košík

  1. 1.
    0092205 - ÚPT 2008 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Novák, Libor - Müllerová, Ilona
    Signal Processing of Secondary Electron Images in SEM.
    [Článek charakterizuje způsoby zavedení rastrovací verze LEEM do konvenčního SEM prostřednictvím vložení katodové čočky pod objektiv přístroje. Shrnuty jsou základní vlastnosti rastrovacího LEEMu.]
    Proceedings of the 8th Multinational Congress on Microscopy. Prague: Czechoslovak Microscopy Society, 2007 - (Nebesářová, J.; Hozák, P.), s. 99-100. ISBN 978-80-239-9397-4.
    [Multinational Congress on Microscopy /8./. Prague (CZ), 17.06.2007-21.06.2007]
    Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: signal processing * secondary electron images * SEM
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0152591