Košík

0091516 - ÚJF 2008 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Vacík, Jiří - Hnatowicz, Vladimír - Červená, Jarmila - Apel, P. Yu. - Posta, S. - Kobayashi, Y.
Study of damaged depth profiles of ion-irradiated PEEK.
[Studium hloubkového profilu poškození polzmeru PEEK ozářeného ionty.]
Surface and Coatings Technology. Roč. 201, 19-20 (2007), s. 8370-8372. ISSN 0257-8972
Grant CEP: GA MPO(CZ) 1H-PK2/05; GA MŠMT 1P04LA213
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10480505
Klíčová slova: Oxygen irradiation * Poly-aryl-ether-ether ketone * Thermal neutron depth profiling (TNDP)
Kód oboru RIV: BG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače
Impakt faktor: 1.678, rok: 2007
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0152088