Košík

0050937 - ÚPT 2007 RIV JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona - Konvalina, Ivo - Pokorná, Zuzana
Acquisition of the Angular Distribution of Backscattered Electrons in the Scanning Low Energy Electron Microscope.
[Snímání úhlového rozdělení zpětně odražených elektronů v rastrovacím nízkoenergiovém elektronovém mikroskopu.]
6th Japanese-Polish Joint Seminar on Materials Analysis. Toyama: University of Toyama, 2006, s. 13-14. ISBN 4-9903248-0-3.
[Japanese-Polish Joint Seminar on Materials Analysis /6./. Toyama (JP), 11.09.2006-13.09.2006]
Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: SLEEM * cathode lens * multichannel detector * angular distribution * BSE detection
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0140960