Košík

  1. 1.
    0210356 - UTAM-F 20013115 RIV CZ cze J - Článek v odborném periodiku
    Gajdoš, Lubomír - Šperl, Martin
    Únavová pevnost defektních svarů v potrubí- I.část.
    [Fatigue strength of defective welds in pipelines -II. part.]
    Plyn : odborný měsíčník pro plynárenství. Roč. 81, č. 11 (2001), s. 246-247. ISSN 0032-1761
    Grant CEP: GA AV ČR IAA2071903
    Klíčová slova: fatigue, strength, welds.
    Kód oboru RIV: JL - Únava materiálu a lomová mechanika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0105910
     
  2. 2.
    0132675 - FZU-D 20000229 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Vaněček, Milan - Poruba, Aleš - Remeš, Zdeněk - Rosa, Jan - Kamba, Stanislav - Vorlíček, Vladimír - Meier, J. - Shah, A.
    Electron spin resonance and optical characterization of defects in microcrystalline silicon.
    Journal of Non-Crystalline Solids. 266-269, - (2000), s. 519-523. ISSN 0022-3093. E-ISSN 1873-4812
    Grant CEP: GA MŠMT OK 268
    Grant ostatní: XE(XC) 4.BPEUJOR3-CT970145
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010914
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 1.269, rok: 2000
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0030682
     
  3. 3.
    0423836 - ÚFP 2014 RIV NL eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Lédl, Vít - Psota, Pavel - Doleček, Roman - Vít, Tomáš - Václavík, Jan
    Testing of recently developed digital holographic mehod for very small amplitude measurement.
    OPTICAL MEASUREMENT TECHNIQUES FOR STRUCTURES & SYSTEMS2 (OPTIMESS2012). Maastricht: SHAKER PUBLISHING BV, 2013 - (Dirckx, J.; Buytaert, J.), s. 223-234. OPTIMESS. ISBN 978-90-423-0419-2.
    [International Conference on Optical Measurement Techniques for Structures and Systems /5./ (OPTIMESS 2012). Antwerp (BE), 04.04.2012-05.04.2012]
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) ED2.1.00/03.0079
    Institucionální podpora: RVO:61389021
    Klíčová slova: Digital Holography * small amplitude * vibration measurement * comparison of measurement
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0229971
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.