Košík

0134566 - FZU-D 20030466 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mocek, Tomáš - Ros, D. - Rus, Bedřich - Joyeux, D. - Präg R., Ansgar - Kozlová, Michaela - Carillon, A. - Phalippou, D. - Ballester, F. - Jacques, E. - Boussoukaya, M. - Jamelot, G.
Interferometric probing of thin niobium layers under high electrical field using the zinc X-ray laser at PALS.
0-7354-0096-2. In: X-Ray Lasers 2002. Melville: AIP, 2002 - (Rocca, J.), s. 518-521. American Institute of Physics Proceedings. ISBN 0-7354-0133. ISSN 0094-243X.
[International Conference on X-ray Lasers /8./. Aspen (US), 26.05.2002-31.05.2002]
Grant CEP: GA MŠMT LN00A100; GA AV ČR IAA1010014
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010921
Klíčová slova: X-ray lasers * laser plasma * X-ray spectroscopy * X-ray optics
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0032462