0105870 - URE-Y 20040035 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Zeipl, Radek - Pavelka, Martin - Jelínek, Miroslav - Chval, Jindřich - Lošťák, P. - Žďánský, Karel - Vaniš, Jan - Karamazov, S. - Vacková, S. - Walachová, JarmilaSome properties of very thin Bi
2Te
3 layers prepared by laser ablation.
[Některé vlastnosti velmi tenkých Bi
2Te
3 vrstev připravených laserovou ablací.]
Proceedings 6th International Workshop on Expert Evaluation & Control of Compound Semiconductor Materials & Technologies - EXMATEC'2002. Weinheim: WileyVCH Verlag, 2003 - (Stutzmann, M.), s. 867-871. Physica Status Solidi, Conferences, 0.3.2003. ISBN 3-527-40436-8.
[EXMATEC 2002 - International Workshop on Expert Evaluation & Control of Compounds Semiconductor Materials & Technologies /6./. Budapest (HU), 26.05.2002-29.05.2002]
Grant CEP: GA ČR GA202/02/0098
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2067918
Klíčová slova: field emission electron microscopy * thermoelectric devices
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0013058