Počet záznamů: 1

Characterization of hydrogenated silicon thin films and diode structures with integrated germanium nanoparticles

SYSNO	0496537
Název	Characterization of hydrogenated silicon thin films and diode structures with integrated germanium nanoparticles
Tvůrce(i)	Stuchlík, Jiří (FZU-D)_{RID, ORCID} Fajgar, Radek (UCHP-M)_{RID, ORCID, SAI} Kupčík, Jaroslav (UCHP-M)_{RID, ORCID, SAI} Remeš, Zdeněk (FZU-D)_{RID, ORCID} Stuchlíková, The-Ha (FZU-D)_{RID, ORCID}
Zdroj.dok.	Nanocon 2017 : conference proceedings : 9th International Conference on Nanomaterials - Research & Application. S. 123-127. - Ostrava : Tanger Ltd., 2018
Konference	NANOCON 2017. International Conference on Nanomaterials - Research & Application /9./, 18.10.2017 - 20.10.2017, Brno
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Grant	KONNECT-007, CZ - Česká republika, KR - Jižní Korea
	LTC17029 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
Institucionální podpora	FZU-D - RVO:68378271 ; UCHP-M - RVO:67985858
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	CZ
Klíč.slova	PECVD * a-Si:H diode structures * Ge * nanoparticles
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0289330

Počet záznamů: 1