Počet záznamů: 1
Experimental study of EUV mirror radiation damage resistance under long-term free-electron laser exposures below the single-shot damage threshold
- 1.
SYSNO 0489644 Název Experimental study of EUV mirror radiation damage resistance under long-term free-electron laser exposures below the single-shot damage threshold Tvůrce(i) Makhotkin, I.A. (NL)
Sobierajski, R. (PL)
Chalupský, J. (CZ)
Tiedtke, K. (DE)
de Vries, G. (NL)
Stoermer, M. (DE)
Scholze, F. (DE)
Siewert, F. (DE)
van de Kruijs, R.W.E. (NL)
Louis, E. (NL)
Jacyna, I. (PL)
Jurek, M. (PL)
Klinger, D. (PL)
Nittler, L. (PL)
Syryanyy, Y. (PL)
Juha, Libor (UFP-V) [LP] ORCID
Hájková, V. (CZ)
Vozda, V. (CZ)
Burian, Tomáš (UFP-V) [LP] ORCID
Saksl, K. (SK)
Faatz, B. (DE)
Keitel, B. (DE)
Ploenjes, E. (DE)
Schreiber, S. (DE)
Toleikis, S. (DE)
Loch, R. (DE)
Hermann, M. (DE)
Strobel, S. (DE)
Nienhuys, H.-K. (NL)
Gwalt, G. (DE)
Mey, T. (DE)
Enkisch, H. (DE)Korespondující/senior Makhotkin, I.A. - Korespondující autor Zdroj.dok. Journal of Synchrotron Radiation. Roč. 25, č. 1 (2018), s. 77-84. - : Oxford Blackwell Konference Workshop on FEL Photon Diagnostics, Instrumentation and Beamline Design (PhotonDiag2017), 01.05.2017 - 03.05.2017, Stanford Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant GA14-29772S GA ČR - Grantová agentura ČR, CZ - Česká republika LG15013 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy Institucionální podpora UFP-V - RVO:61389021 Jazyk dok. eng Země vyd. DK Klíč.slova free-electron laser induced damage * EUV optics * thin films * FELs Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0284055
Počet záznamů: 1