Počet záznamů: 1
Xenon focused ion beam in the shape memory alloys investigation – the case of NiTi and CoNiAl
- 1.
SYSNO 0481772 Název Xenon focused ion beam in the shape memory alloys investigation – the case of NiTi and CoNiAl Tvůrce(i) Kopeček, Jaromír (FZU-D) RID, ORCID
Jurek, Karel (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Kopecký, Vít (FZU-D) ORCID
Klimša, Ladislav (FZU-D) ORCID
Seiner, Hanuš (UT-L) RID, ORCID
Sedlák, Petr (UT-L) RID, ORCID
Landa, Michal (UT-L) RID
Dluhoš, J. (CZ)
Petrenec, M. (CZ)
Hladík, L. (CZ)
Doupal, A. (CZ)
Heczko, Oleg (FZU-D) RID, ORCIDZdroj.dok. Microscopy and Microanalysis. Roč. 20, Aug (2014), s. 335-336. - : Cambridge University Press Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant GA14-03044S GA ČR - Grantová agentura ČR, CZ - Česká republika Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 ; UT-L - RVO:61388998 Jazyk dok. eng Země vyd. US Klíč.slova scanning electron microscope * SEM * focused ion beam * FIB * xenon plasma focused ion beam * dual beam * shape memory alloy * SMA Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0277259
Počet záznamů: 1