Počet záznamů: 1  

Laser source for dimensional metrology: investigation of an iodine stabilized system based on narrow linewidth 633 nm DBR diode

  1. 1.
    SYSNO0480451
    NázevLaser source for dimensional metrology: investigation of an iodine stabilized system based on narrow linewidth 633 nm DBR diode
    Tvůrce(i) Řeřucha, Šimon (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Yacoot, A. (GB)
    Pham, Minh Tuan (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Čížek, Martin (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Hucl, Václav (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Lazar, Josef (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Číp, Ondřej (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Zdroj.dok. Measurement Science and Technology. Roč. 28, č. 4 (2017), s. 1-11. - : Institute of Physics Publishing
    Číslo článku045204
    Druh dok.Článek v odborném periodiku
    Grant GB14-36681G GA ČR - Grantová agentura ČR
    LO1212 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
    ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    TE01020233 GA TA ČR - Technologická agentura ČR
    Institucionální podporaUPT-D - RVO:68081731
    Jazyk dok.eng
    Země vyd.GB
    Klíč.slova optical metrology * DBR laser diode * frequency stabilization * laser interferometry * dimensional metrology * iodine stabilization * displacement measurement
    Trvalý linkhttp://hdl.handle.net/11104/0276231
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.