Počet záznamů: 1
Quantitative low-energy ion beam characterization by beam profiling and imaging via scintillation screens.
- 1.
SYSNO 0469204 Název Quantitative low-energy ion beam characterization by beam profiling and imaging via scintillation screens. Tvůrce(i) Germer, S. (DE)
Pietag, F. (DE)
Polák, Jaroslav (UFP-V) [TOPTEC] RID
Arnold, T. (DE)Korespondující/senior Germer, S. - Korespondující autor Zdroj.dok. Review of Scientific Instruments. Roč. 87, č. 11 (2016). - : AIP Publishing Konference Topical Conference on High-Temperature Plasma Diagnostics/21./, 05.06.2016 - 09.06.2016, Madison Číslo článku 113301 Druh dok. Článek v odborném periodiku Institucionální podpora UFP-V - RVO:61389021 Jazyk dok. eng Země vyd. US Klíč.slova Current density * Etching * Faraday cups * Ion beam sources * Cameras Spolupracující instituce Leibniz-Institut für Oberflächenmodifizierung E.V., Permoserstr. 15, Leipzig (Německo) URL http://aip.scitation.org/doi/full/10.1063/1.4964701 Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0267029 Název souboru Staženo Velikost Komentář Verze Přístup Quantitative low-energy ion beam characterization by beam profiling and imaging via scintillation screens.pdf 2 3.5 MB Vydavatelský postprint vyžádat
Počet záznamů: 1