Počet záznamů: 1
Simulations and measurements in scanning electron microscopes at low electron energy
- 1.
SYSNO 0467245 Název Simulations and measurements in scanning electron microscopes at low electron energy Tvůrce(i) Walker, C. (GB)
Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCIDZdroj.dok. Scanning. Roč. 38, č. 6 (2016), s. 802-818 Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant TE01020118 GA TA ČR - Technologická agentura ČR, CZ - Česká republika LO1212 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy 606988, XE - země EU Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 Jazyk dok. eng Země vyd. US Klíč.slova Monte Carlo modeling * scanned probe * computer simulation * electron-solid interactions * surface analysis Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0265392
Počet záznamů: 1