Počet záznamů: 1
Detection of Secondary Electrons by Scintillation Detector at VP SEM
- 1.
SYSNO 0368932 Název Detection of Secondary Electrons by Scintillation Detector at VP SEM Tvůrce(i) Jirák, J. (CZ)
Čudek, P. (CZ)
Neděla, Vilém (UPT-D) RID, ORCID, SAIZdroj.dok. Microscopy and Microanalysis. Roč. 17, Suppl. 2 (2011), s. 922-923. - : Cambridge University Press Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant GAP102/10/1410 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. US Klíč.slova variable pressure scanning electron microscopes (VP-SEM) * scintillation detector * secondary electrons Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0203133
Počet záznamů: 1