Počet záznamů: 1  

Detection of Secondary Electrons by Scintillation Detector at VP SEM

  1. 1.
    SYSNO0368932
    NázevDetection of Secondary Electrons by Scintillation Detector at VP SEM
    Tvůrce(i) Jirák, J. (CZ)
    Čudek, P. (CZ)
    Neděla, Vilém (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Zdroj.dok. Microscopy and Microanalysis. Roč. 17, Suppl. 2 (2011), s. 922-923. - : Cambridge University Press
    Druh dok.Článek v odborném periodiku
    Grant GAP102/10/1410 GA ČR - Grantová agentura ČR
    CEZAV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
    Jazyk dok.eng
    Země vyd.US
    Klíč.slova variable pressure scanning electron microscopes (VP-SEM) * scintillation detector * secondary electrons
    Trvalý linkhttp://hdl.handle.net/11104/0203133
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.